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信息产业部电子第五研究所的专利信息
| 序号 | 公布号 | 发明名称 | 公布日期 | 摘要 |
| 1 | CN1888919A | 一种对断电后绕组电阻值进行动态同步测试的方法 | 2007.01.03 | 本发明公开了一种对断电后绕组电阻值进行动态同步测试的方法，它包括如下步骤：将测阻装置分别与待测绕组、 |
| 2 | CN1955750A | 真空电子器件的模态验证方法及系统 | 2007.05.02 | 本发明公开了一种真空电子器件的模态验证方法包括如下步骤：(1)将被测真空电子器件夹紧并固定；(2)对 |
| 3 | CN201017024Y | 大电流起弧引燃装置 | 2008.02.06 | 本实用新型公开了一种大电流起弧引燃装置，包括固定电极、移动电极、与所述移动电极联接的传动盘，在所述传 |
| 4 | CN201016871Y | 步入式三综合环境试验系统 | 2008.02.06 | 本实用新型公开了一种步入式三综合环境试验系统，包括主箱体和振动台，所述主箱体可被活动隔板门分隔成多个 |
| 5 | CN201322759Y | 一种分立器件裸芯片测试与老化临时封装载体 | 2009.10.07 | 本实用新型公开了一种分立器件裸芯片测试与老化临时封装载体，它包括电气互连衬底和为电气互连衬底提供机械 |
| 6 | CN101403662A | 一种微型机械制冷机工质污染取样和分析装置 | 2009.04.08 | 本发明公开了一种微型机械制冷机工质污染取样和分析装置，它采用制冷机充气阀座配合活动连接的二通取气阀、 |
| 7 | CN1851409B | 一种压电陀螺的可靠性评估方法 | 2011.08.10 | 本发明公开了一种压电陀螺的可靠性评估方法，该压电陀螺包括敏感器件部分和后部电路部分，所述方法包括如下 |
| 8 | CN101393083B | 一种微型斯特林制冷机的加速寿命评价试验装置 | 2011.01.12 | 本发明公开了一种微型斯特林制冷机的加速寿命评价试验装置。该装置包括主电源电控箱制冷机示波器真空泵电磁 |
| 9 | CN101413988B | 一种基于低能X射线的MCM/HIC电路总剂量辐照试验方法 | 2010.10.13 | 本发明公开了一种基于低能X射线的MCM/HIC电路总剂量辐照试验方法，首先通过分析MCM/HIC电路 |
| 10 | CN101017510B | 一种利用热阻网络模型计算微电子器件结温的方法 | 2010.09.08 | 本发明公开了一种热阻网络模型，它为星形结构，它由与封装的微电子器件的结相连的代表顶面、侧面、底面和引 |
| 11 | CN1851509B | 一种光纤连接器的可靠性评估方法 | 2010.07.14 | 本发明公开了一种光纤连接器的可靠性评估方法，它包括如下步骤：对光纤连接器进行分析从而获得基本失效率、 |
| 12 | CN1851721B | 一种砷化镓单片微波集成电路的可靠性评估方法 | 2010.06.23 | 本发明公开了一种砷化镓单片微波集成电路的可靠性评估方法，它包括如下步骤：对砷化镓单片微波集成电路进行 |
| 13 | CN201373797Y | 跌落试验机的姿态调整机构 | 2009.12.30 | 本实用新型公开了一种跌落试验机的姿态调整机构，它设置在跌落试验机的升降机上，包括用于放置包装件的夹具 |
| 14 | CN201298171Y | 温度敏感控制器耐久性试验装置 | 2009.08.26 | 本实用新型公开了一种温度敏感控制器耐久性试验装置，它包括试验样品、可调负载、电源、电流互感器、温度调 |
| 15 | CN201298812Y | 输出周期可控的交流电源控制装置 | 2009.08.26 | 本实用新型公开了一种数字化精周期计数方式的输出周期可控的交流电源控制装置，它包括交流电源输入端、双向 |
| 16 | CN100533164C | 真空电子器件的模态验证方法及系统 | 2009.08.26 | 本发明公开了一种真空电子器件的模态验证方法包括如下步骤：(1)将被测真空电子器件夹紧并固定；(2)将 |
| 17 | CN201298046Y | 一种裸芯片的临时封装载体 | 2009.08.26 | 本实用新型公开了一种裸芯片的临时封装载体，包括电气互连衬底和为所述电气互连衬底提供机械支撑的夹具。夹 |
| 18 | CN101413988A | 一种基于低能X射线的MCM/HIC电路总剂量辐照试验方法 | 2009.04.22 | 本发明公开了一种基于低能X射线的MCM/HIC电路总剂量辐照试验方法，首先通过分析MCM/HIC电路 |
| 19 | CN101393083A | 一种微型斯特林制冷机的加速寿命评价试验装置 | 2009.03.25 | 本发明公开了一种微型斯特林制冷机的加速寿命评价试验装置。该装置包括主电源、电控箱、制冷机、示波器、真 |
| 20 | CN101393084A | 一种房间空气调节器可靠性试验剖面 | 2009.03.25 | 本发明公开了一种房间空气调节器可靠性试验剖面，具体来说，涉及一种房间空气调节器可靠性评价标准。它是模 |
| 21 | CN100395555C | CMOS电路的闩锁效应测试方法 | 2008.06.18 | 一种CMOS电路的闩锁效应测试方法，可用于测试CMOS集成电路的触发电压/电流、维持电压/电流的准确 |
| 22 | CN101021547A | 裸芯片测试与老化筛选临时封装载体 | 2007.08.22 | 本发明公开了一种裸芯片测试与老化筛选临时封装载体，它包括电气互连衬底和为电气互连衬底提供机械支撑的夹 |
| 23 | CN101017153A | 一种评估和监测介质层质量和可靠性的方法 | 2007.08.15 | 本发明公开了一种评估和监测介质层质量和可靠性的方法，它包括如下步骤：首先设定缺陷导致被测介质层击穿为 |
| 24 | CN101017510A | 一种热阻网络模型及利用该模型计算微电子器件结温的方法 | 2007.08.15 | 本发明公开了一种热阻网络模型，它为星形结构，它由与封装的微电子器件的结相连的代表顶面、侧面、底面和引 |
| 25 | CN101017192A | 一种获取肖特基二极管结参数的方法 | 2007.08.15 | 本发明公开了一种获取肖特基二极管结参数的方法，它包括如下步骤：用等效电路来模拟肖特基势垒结；对肖特基 |
| 26 | CN1851409A | 一种压电陀螺的可靠性评估方法 | 2006.10.25 | 本发明公开了一种压电陀螺的可靠性评估方法，该压电陀螺包括敏感器件部分和后部电路部分，所述方法包括如下 |
| 27 | CN1851509A | 一种光纤连接器的可靠性评估方法 | 2006.10.25 | 本发明公开了一种光纤连接器的可靠性评估方法，它包括如下步骤：对光纤连接器进行分析从而获得基本失效率、 |
| 28 | CN2831413Y | 电子枪的卡槽式防振试验夹具 | 2006.10.25 | 本实用新型公开了一种电子枪的卡槽式防振试验夹具，包括底板、竖板和卡板，所述的卡板为两块，每块卡板上开 |
| 29 | CN1851721A | 一种砷化镓单片微波集成电路的可靠性评估方法 | 2006.10.25 | 本发明公开了一种砷化镓单片微波集成电路的可靠性评估方法，它包括如下步骤：对砷化镓单片微波集成电路进行 |
| 30 | CN2751265Y | 低温试验箱 | 2006.01.11 | 一种低温试验箱包括散热风机、隔热箱体、加热器、自动控制系统及制冷系统，该制冷系统为低温试验箱的核心组 |
| 31 | CN1588104A | MOS器件热载流子注入效应测量方法 | 2005.03.02 | 一种MOS器件热载流子注入效应测量方法，首先根据标准用测量仪确定待测器件的漏、栅极的应力电压值；然后 |
| 32 | CN1588102A | 在高温恒定电场中与时间有关的介质击穿试验方法 | 2005.03.02 | 一种与时间有关的介质击穿可靠性的测试方法，所述测试方法采用高温恒定电压应力对集成电路栅氧化层及介质层 |
| 33 | CN1588107A | CMOS电路的闩锁效应测试方法 | 2005.03.02 | 一种CMOS电路的闩锁效应测试方法，可用于测试CMOS集成电路的触发电压/电流、维持电压/电流的准确 |
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